OLS5000
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단순화된 고급 현미경
모듈성을 염두에 두고 설계된 BX53M 시리지는 다양한 재료 과학 및 산업 애플리케이션에 다양한 기능을 제공합니다. 올림푸스 Stream 소프트웨어와의 향상된 통합으로 BX53M은 관찰에서 보고서 작성에 이르기까지 표준 현미경 및 디지털 이미징 사용자를 위한 완벽한 워크플로우를 제공합니다.
전통적인 기술들을 쉽게 만듭니다 : 간단한 조명장치
조명장치는 현미경 조작중에 일반적으로 필요한 복잡한 행동들을 최소화 합니다. 조명장치 전면에 있는 다이얼을 사용하면 관찰 방법을 쉽게 변경할 수 있습니다. 사용자는 다양한 유형의 분석들을 쉽게 변경하기 위해 반사광 현미경에서 가장 자주 사용되는 관찰 방법 예로, 명시야에서 암시야로, 편광으로 빠르게 전환할 수 있습니다. 또한 anlayzer를 회전시켜 간이 편광 관찰로 조정할 수 있습니다.
직관적인 현미경 제어:단순한 FS 및 AS 설정적절한 조리개 스탑 및 필드 스탑 설정을 사용하면 이미지 대비가 좋고 대물렌즈의 조리개를 최대한 활용할 수 있습니다. 범례는 관찰 방법 및 사용 목적에 따라 사용자를 올바른 설정으로 안내합니다.
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초점을 빠르게 찾기프레임의 포커스 스케일 인덱스는 초점에 빠른 접근을 지원합니다. 작업자는 접안 렌즈를 통해 샘플을 보지 않고도 초점을 대략적으로 조정할 수 있어 높이가 다른 샘플을 검사할 때 시간을 절약할 수 있습니다.
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현미경 설정 복원:
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일관된 조명장치:
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응용
여섯 가지의 BX53M 구성 제안은 필요한 기능을 선택할 수 있는 유연성을 제공합니다
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Darkfield 표면 실장 보드 : DF Darkfield를 사용하면 표본에서 산란 또는 회절 된 빛을 관찰 할 수 있습니다. 편평하지 않은 것은이 빛을 반사하는 반면 편평한 것은 어둡게 보이므로 결함이 분명하게 드러납니다. 사용자는 광학 현미경의 분해능 한계보다 작은 8nm 수준까지 미세한 스크래치 또는 결함의 존재를 식별 할 수 있습니다. Darkfield는 시편의 미세한 스크래치 또는 결함을 감지하고 웨이퍼를 포함한 거울 표면 시편을 검사하는 데 이상적입니다. |
Differential Interference Contrast 에칭 된 구상 주철 : DIC DIC는 명 시야로 감지 할 수없는 표본의 높이 차가 대비가 향상된 입체 또는 입체 영상이되는 현미경 관찰 기법입니다. 이 기술은 편광을 활용하며 특별히 설계된 3 개의 프리즘을 선택하여 사용자 정의 할 수 있습니다. 금속 구조, 미네랄, 마그네틱 헤드, 하드 디스크 미디어 및 연마 된 웨이퍼 표면을 포함하여 매우 미세한 높이 차이가있는 시편을 검사하는 데 이상적입니다. |
Polarized Light 세리 사이트 : POL 이 현미경 관찰 기술은 일련의 필터 (분석기 및 편광기)에서 생성 된 편광을 사용합니다. 샘플의 특성은 시스템을 통해 반사되는 빛의 강도에 직접적인 영향을 미칩니다. 금속 구조 (예 : 구상 주철의 흑연 성장 패턴), 광물, LCD 및 반도체 재료에 적합합니다.
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Fluorescence 반도체 웨이퍼상의 입자 : FL 이 기술은 특정 용도에 맞게 선택할 수있는 특수 설계된 필터 큐브로 조명 할 때 형광을 발하는 (다른 파장의 빛을 방출하는) 표본에 사용됩니다. 반도체 웨이퍼의 오염, 포토 레지스트 잔류 물 검사, 형광 염료 사용을 통한 크랙 검출 등에 적합합니다. 가시 광선에서 근적외선까지의 색수차를 보정하기 위해 선택 사항 인 apochromatic lamp housing 컬렉터 렌즈 시스템을 추가 할 수 있습니다.
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Infra-Red 전극 섹션 : IR IR 관찰은 빛의 IR 파장을 쉽게 투과시키는 실리콘 또는 유리로 구성된 전자 장치 내부를 비파괴 검사하는 데 선호되는 방법입니다.
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Transmitted Light Observation LCD 컬러 필터 : TL BF + HDR LCD, 플라스틱 및 유리 재료와 같은 투명한 샘플의 경우 다양한 콘덴서를 사용하여 진정한 투과광 관찰이 가능합니다. 투과 된 명 시야 및 편광에서 샘플을 검사하는 것은 하나의 편리한 시스템에서 모두 수행 할 수 있습니다.
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사양
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BX53MTRF-S |
BX53MRF-S |
BXFM |
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Optical system |
UIS2 optical system (infinity-corrected) |
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Microscope frame |
Illumination |
Reflected/transmitted |
Reflected |
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Focus |
Stroke: 25 mm |
Stroke: 30 mm |
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Fine stroke per rotation: 100 μm |
Fine stroke per rotation: 200 μm |
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Minimum graduation: 1 μm |
Minimum graduation: 2 μm |
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With upper limit stopper, torque adjustment for coarse handle |
With torque adjustment for coarse handle |
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Max. specimen height |
35 mm (w/o spacer) |
65 mm (w/o spacer) |
Depends on the mounting configuration |
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75 mm (with BX3M-ARMAD) |
105 mm (with BX3M-ARMAD) |
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Observation tube |
Wide-field FN 22 |
Inverted: binocular, trinocular, tilting binocular |
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Erect: trinocular, tilting binocular |
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Super-wide-field FN 26.5 |
Inverted: trinocular |
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Erect: trinocular, tilting trinocular |
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Reflected light illumination |
Traditional observation technique |
BX3M-RLAS-S |
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Coded, white LED, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (with centering mechanism) |
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BX3M-KMA-S |
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White LED, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (with centering mechanism) |
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BX3M-RLA-S |
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100W halogen lamp, white LED, BF/DF/DIC/POL/MIX/ FS, AS (with centering mechanism), |
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BF/DF interlocking, ND filter |
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– |
U-KMAS |
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White LED, 100W halogen |
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Fiber illumination, BF/DIC/POL/MIX |
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Fluorescence |
BX3M-URAS-S |
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Coded, 100W mercury lamp, 4 position mirror unit turret, (standard: WB, WG, WU+BF etc) |
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With FS, AS (with centering mechanism), with shutter mechanism |
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Transmitted light |
White LED |
– |
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Abbe/long working distance condensers |
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Revolving nosepiece |
For BF |
Sextuple, centering sextuple, septuple, coded quintuple (optional motorized revolving nosepieces) |
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For BF/DF |
Sextuple, quintuple, centering quintuple, coded quintuple (optional motorized revolving nosepieces) |
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Stage |
Coaxial left (right) handle stage: |
– |
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76 mm × 52 mm, with torque adjustment |
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Large-size coaxial left (right) handle stage: |
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105 mm × 100 mm, with locking mechanism in Y-axis |
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Large-size coaxial right handle stage: |
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150 mm × 100 mm, with torque adjustment and locking mechanism in Y-axis |
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Weight |
Approx. 18.3 kg |
Approx. 15.8 kg |
Approx. 11.1 kg |
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(Microscope frame 7.6 kg) |
(Microscope frame 7.4 kg) |
(Microscope frame 1.9 kg) |
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Dimensions
